HAST試驗(yàn)箱是一種用于測(cè)試材料或產(chǎn)品加速老化的設(shè)備，它通常在電子產(chǎn)品、汽車零部件、建筑材料等方面應(yīng)用。通過(guò)模擬高溫高濕的環(huán)境，試驗(yàn)箱可以幫助企業(yè)在設(shè)計(jì)階段就發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低不良品率。

 

　　可以說(shuō)HAST試驗(yàn)箱在生活中運(yùn)用也是很廣泛的，主要是用于檢測(cè)產(chǎn)品的耐厭性，氣密性。測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。